测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:09-28 2025 来自:祥宇精密
形位公差是指工件的几何形状和位置关系相对于理想状态的允许偏差。它包括以下几个方面:
形位公差的精确测量对于确保工件的装配精度和功能性能具有重要意义。
答案是肯定的,祥宇影像测量仪完全可以进行形位公差检测。祥宇影像测量仪采用先进的光学测量技术和高精度的图像处理能力,能够对工件的几何形状和位置关系进行精确测量,确保其在制造过程中的精度和质量。
具体来说,祥宇影像测量仪可以检测以下形位公差:
祥宇影像测量仪在形位公差检测中具有以下几个显著的优势:
祥宇影像测量仪采用先进的光学测量技术,测量精度高达微米级,能够满足形位公差的高精度测量需求。这对于确保工件在制造过程中的精度和质量至关重要。
祥宇影像测量仪不仅可以测量工件的几何形状和尺寸,还可以检测其形位公差,功能强大,适用范围广泛。无论是简单的二维测量还是复杂的三维测量,祥宇影像测量仪都能够胜任。
祥宇影像测量仪采用人性化的设计,操作简单方便,用户只需经过简单的培训即可熟练掌握其使用方法。这对于提高生产效率和降低操作难度具有重要意义。
祥宇影像测量仪采用高速图像处理技术,测量速度快,能够在短时间内完成大量工件的测量任务,提高生产效率。这对于满足现代制造业的高效率生产需求具有重要作用。
祥宇影像测量仪配备专业的数据管理软件,可以对测量结果进行分类、存储和分析,方便用户进行数据管理和质量控制。这对于提高产品质量和生产管理水平具有重要意义。
400-801-9255